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MORELHÃO, S. L.; FORNARI, C. I.; RAPPL, P. H. O.; ABRAMOF, E. Nanoscale characterization of bismuth telluride epitaxial layers by advanced X-ray analysis. Journal of Applied Crystallography, v. 50, p. 399-410, 2017. DOI: <10.1107/S1600576717000760>. Disponível em: <http://doi.org/10.1107/S1600576717000760>.
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... como proposto por Morelhão et al. (2017).
... pode ser encontrada na literatura (MORELHÃO et al., 2017).